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Une sélection de nos clients :
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Actualité :
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10-AUG-2010 :
ASTER renouvelle son partenariat avec Mentor Graphics dans le cadre du programme OpenDoor.
 du 01-JUN-2010 au 03-JUN-2010 :
Salon CiEN - stand H31 (Paris, France)
19-OCT-2009 :
Communiqué de presse : ASTER Technologies et ITOCHU SysTech annoncent un partenariat stratégique qui permet aux clients TAKAYA d 'accéder à un outil d 'analyse de couverture de test.
29-OCT-2009 :
Outils de conception et de contrôle pour les entreprises de l'électronique - Venez découvrir de nouveaux outils destinés aux Bureaux d'études, fabricants, sous-traitants pour réduire drastiquement les délais de mise sur le marché.Inscription gratuite (Morlaix, France)
du 10-NOV-2009 au 13-NOV-2009 :
Productronica - Hall A1 stand 232 (Munich, Allemagne)
13-OCT-2009 :
GOEPEL Technology Day - Inscrivez-vous et apprenez comment " TestWay " peut réduire les coûts de test et fabrication de vos cartes (Southampton, Royaume Uni)
du 06-OCT-2009 au 08-OCT-2009 :
Forum de l'Electronique - Hall 1 stand C 57. Badge gratuit Mot de passe: IA (Paris-Nord Villepinte, France)
23-JUN-2009 :
Newsletter: Demandez une analyse de couverture de test GRATUITE!
du 29-MAR-2009 au 02-APR-2009 :
Agilent Technologies va collaborer avec ASTER pour l'analyse de la couverture de test multiplateforme. Revue de presse. Venez nous rendre visite à l'IPC APEX Expo, stand 1245. (Californie, Etats-Unis)
03 & 05-MAR-2009 :
Goepel Technology Days - Venez assister aux présentations ASTER pendant ces séminaires en Angleterre. A Cambridge le 3 mars, et à Bristol le 5 mars 2009.
05-DEC-2008 :
Newsletter: ASTER lance l'analyse de couverture "low-cost"
20-NOV-2008 :
ASTER renouvelle son partenariat avec Mentor Graphics dans le cadre du programme OpenDoor.
du 11-NOV-2008 au 14-NOV-2008 :
Electronica - Hall A1 - Stand 549. (Munich, Allemagne)
24-OCT-2008 :
ASTER Technologies lance une nouvelle génération d'outils "easy-to-use" pour l'analyse de couverture de test. Revue de presse
du 30-SEP-2008 au 02-OCT-2008 :
Forum de l'Electronique - Hall 2 Stand 2-N100. (Paris-Nord Villepinte, France)
du 09-SEP-2008 au 11-SEP-2008 :
Autotestcon - Rendez visite à ASTER sur le stand Global Test Solutions, Stand 930. Information & inscription (Salt Lake City, Etats-Unis)
10-JUL-2008 :
Success Stories : Témoignage de KONTRON. (Boisbriand, Canada)
du 17-JUN-2008 au 19-JUN-2008 :
National Electronics Week - Rendez visite à ASTER sur le stand Accelonix, Hall 2, Stand D60. (London, Royaume Uni)
10-JUN-2008 :
First ASTER Chinese Users' Group - Venez partager les expériences d'autres utilisateurs et restez informés des nouveautés sur les développements des produits. Version anglophone - Version chinoise (Shanghai, Chine)
26-MAY-2008 :
Edition de mai de la Newsletter ASTER.
19-MAY-2008 :
Accelonix nommé distributeur officiel de QUAD, au Royaume Uni et en Europe Centrale.
du 08-APR-2008 au 10-APR-2008 :
"Is a board 'good' because the test passes?", publication technique sur l'Analyse de Couverture de Test, presenté lors de l' "Aerospace Testing Seminar". (Californie, Etats-Unis)
28-FEB-2008 :
Publication de l'article Quad - Une solution dédiée rationalise le contrôle de la qualité des cartes dans la revue 'Electronique International'. (France)
19-FEB-2008 :
ASTER nomme Testforce comme Distributeur au Canada. (Toronto, Canada)
du 13-NOV-2007 au 16-NOV-2007 :
Productronica - Hall A1 - Stand 452 (Munich, Allemagne)
04-OCT-2007 :
ASTER Technologies, Distributeur de CAMCAD en France. (Paris, France)
du 25-SEP-2007 au 27-SEP-2007 :
Forum de l'Electronique - Hall 7.2 - Stand R98 (Paris, France)
22-JUN-2007 :
ASTER bénéficie de Microsoft Empower pour développer QuadView.
du 15-MAY-2007 au 17-MAY-2007 :
Nepcon UK - Stand G46 (Birmingham NEC, Royaume Uni)
15-MAY-2007 :
ASTER et GOEPEL annoncent une collaboration pour le développement de CASCON ScanVision III.
02-MAY-2007 :
Edition de Mai de la Newsletter ASTER.
28-FEB-2007 :
Boundary Scan Day - organisé par GOEPEL Electronic (Cambridge University, Royaume Uni)
28-FEB-2007 :
ASTER et GOEPEL annoncent une collaboration concernant la Vérification de règles DfT
08-FEB-2007 :
Test In Production Event - organisé par ACCELONIX (Eindhoven, Pays Bas)
23-JAN-2007 :
Publication de l'article "Les conceptions de vos cartes sont-elles testables?" sur le site web d'EngineerLive.
16-OCT-2006 :
ASTER Technologies et TEMENTO Systems annoncent un partenariat stratégique
14-SEP-2006 :
test fonctionnel et analyse de couverture de fautes durant la 5e édition du IEEE Board Test Workshop. (Fort Collins, Colorado, Etats-Unis)
19-JUN-2006 :
ASTER nomme RDT comme Distributeur en Israel. (Tel Aviv, Israel)
03-APR-2006 :
ASTER ouvre une filiale au Royaume-Uni. ASTER Technologies Ltd, créée avec le soutien de Bretagne International est dirigée par Peter COLLINS, directeur des ventes et du marketing.
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Evénements et actualité d'ASTER
Evénements
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Sujet |
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| du 01-JUN-2010 au 03-JUN-2010 | Salon CiEN, stand H31 PARIS Porte de Versailles Pavillon 7.1 Invitation gratuite avec le mot de passe IA | Paris - France |
| 29-OCT-2009 | Outils de conception et de contrôle pour les entreprises de l'électronique , Venez découvrir de nouveaux outils destinés aux Bureaux d'études, fabricants, sous-traitants pour réduire drastiquement les délais de mise sur le marché.Inscription gratuite Seront aussi disponibles: des équipements diversifiés et des services en région Ouest (Analyse concurrentielle, Retro conception, Contrôle non destructifs de cartes, de prototypes et de produits électroniques par rayon X…). | Morlaix - France |
| du 10-NOV-2009 au 13-NOV-2009 | Productronica, Hall A1 stand 232 | Munich - Allemagne |
| 13-OCT-2009 | GOEPEL Technology Day, Inscrivez-vous et apprenez comment " TestWay " peut réduire les coûts de test et fabrication de vos cartes en fournissant une analyse de couverture test et DfT très tôt dans le cycle de développement du produit. Découvrez également les dernières nouveautés sur le Boundary-Scan et les solutions d'Inspection Optique Automatique (AOI). | Southampton - Royaume Uni |
| du 06-OCT-2009 au 08-OCT-2009 | Forum de l'Electronique, Hall 1 stand C 57. Badge gratuit Mot de passe: IA | Paris-Nord Villepinte - France |
| 03 & 05-MAR-2009 | Goepel Technology Days, Venez assister aux présentations ASTER pendant ces séminaires en Angleterre. A Cambridge le 3 mars, et à Bristol le 5 mars 2009. www.goepel.com | |
| du 11-NOV-2008 au 14-NOV-2008 | Electronica, Hall A1 - Stand 549. Des tickets d'entrée sont à votre disposition sur simple demande. | Munich - Allemagne |
| du 30-SEP-2008 au 02-OCT-2008 | Forum de l'Electronique, Hall 2 Stand 2-N100. Des tickets d'entrée sont à votre disposition sur simple demande. | Paris-Nord Villepinte - France |
| du 09-SEP-2008 au 11-SEP-2008 | Autotestcon, Rendez visite à ASTER sur le stand Global Test Solutions, Stand 930. Information & inscription | Salt Lake City - Etats-Unis |
| du 17-JUN-2008 au 19-JUN-2008 | National Electronics Week, Rendez visite à ASTER sur le stand Accelonix, Hall 2, Stand D60. | London - Royaume Uni |
| 10-JUN-2008 | First ASTER Chinese Users' Group, Venez partager les expériences d'autres utilisateurs et restez informés des nouveautés sur les développements des produits. Version anglophone - Version chinoise | Shanghai - Chine |
| du 13-NOV-2007 au 16-NOV-2007 | Productronica, Hall A1 - Stand 452 | Munich - Allemagne |
| du 25-SEP-2007 au 27-SEP-2007 | Forum de l'Electronique, Hall 7.2 - Stand R98 | Paris - France |
| du 15-MAY-2007 au 17-MAY-2007 | Nepcon UK, Stand G46 | Birmingham NEC - Royaume Uni |
| 28-FEB-2007 | Boundary Scan Day, organisé par GOEPEL Electronic | Cambridge University - Royaume Uni |
| 08-FEB-2007 | Test In Production Event, organisé par ACCELONIX | Eindhoven - Pays Bas |
Actualité
| Date |
Nouvelle |
| 10-AUG-2010 | ASTER renouvelle son partenariat avec Mentor Graphics dans le cadre du programme OpenDoor. |
| 19-OCT-2009 | Communiqué de presse : ASTER Technologies et ITOCHU SysTech annoncent un partenariat stratégique qui permet aux clients TAKAYA d 'accéder à un outil d 'analyse de couverture de test. (Fichier PDF, 154k)  |
| 23-JUN-2009 | Newsletter: Demandez une analyse de couverture de test GRATUITE! |
| du 29-MAR-2009 au 02-APR-2009 | IPC APEX 2009 Agilent Technologies va collaborer avec ASTER pour l'analyse de la couverture de test multiplateforme. Revue de presse. Venez nous rendre visite à l'IPC APEX Expo, stand 1245. (Fichier PDF, 338k) |
| 05-DEC-2008 | Newsletter: ASTER lance l'analyse de couverture "low-cost" |
| 20-NOV-2008 | ASTER renouvelle son partenariat avec Mentor Graphics dans le cadre du programme OpenDoor. |
| 24-OCT-2008 | ASTER Technologies lance une nouvelle génération d'outils "easy-to-use" pour l'analyse de couverture de test. Revue de presse (Fichier PDF, 406k) |
| 10-JUL-2008 | Success Stories : Témoignage de KONTRON. KONTRON récolte les fruits de son utilisation de TestWay pour l'analyse de la couverture de test et la standardisation de sa methodologie DfT (Fichier PDF, 183k) |
| 26-MAY-2008 | Edition de mai de la Newsletter ASTER. |
| 19-MAY-2008 | Accelonix nommé distributeur officiel de QUAD, au Royaume Uni et en Europe Centrale. (Fichier PDF, 163k) |
| du 08-APR-2008 au 10-APR-2008 | "Is a board 'good' because the test passes?", publication technique sur l'Analyse de Couverture de Test, presenté lors de l' "Aerospace Testing Seminar". (Fichier PDF, 620k) |
| 28-FEB-2008 | Publication de l'article Quad - Une solution dédiée rationalise le contrôle de la qualité des cartes dans la revue 'Electronique International'. "Modulable, flexible, ergonomique, l'outil logiciel Quad d'ASTER Technologies est conçu pour les fabricants et sous-traitants impliqués dans des productions à forte valeur ajoutée." (Fichier PDF, 654k) |
| 19-FEB-2008 | ASTER nomme Testforce comme Distributeur au Canada. (Fichier PDF, 22k) |
| 04-OCT-2007 | ASTER Technologies, Distributeur de CAMCAD en France. La signature d'un partenariat commercial avec Mentor Graphics permet à ASTER de compléter son offre et proposer des solutions complètes de Design For eXcellence pour le test, la fabrication et la maintenance des cartes électroniques. (Fichier PDF, 102k) |
| 22-JUN-2007 | ASTER bénéficie de Microsoft Empower pour développer QuadView. (Fichier PDF, 131k) |
| 15-MAY-2007 | ASTER et GOEPEL annoncent une collaboration pour le développement de CASCON ScanVision III. |
| 02-MAY-2007 | Edition de Mai de la Newsletter ASTER. |
| 28-FEB-2007 | ASTER et GOEPEL annoncent une collaboration concernant la Vérification de règles DfT (Fichier PDF, 16k) |
| 23-JAN-2007 | Publication de l'article "Les conceptions de vos cartes sont-elles testables?" sur le site web d'EngineerLive. |
| 04-NOV-2006 | Edition de Novembre de la Newsletter ASTER. |
| 16-OCT-2006 | ASTER Technologies et TEMENTO Systems annoncent un partenariat stratégique (Fichier PDF, 166k) |
| 14-SEP-2006 | ASTER présente un article sur le thème du test fonctionnel et analyse de couverture de fautes durant la 5e édition du IEEE Board Test Workshop. (Fichier PDF, 205k) |
| 19-JUN-2006 | ASTER nomme RDT comme Distributeur en Israel. RDT Equipment & Systems distibue et assure le support des outils de DfT et d'analyse de couverture de faute de la gamme 'TestWay', depuis le bureau de Tel-Aviv. (Fichier PDF, 145k) |
| 03-APR-2006 | ASTER ouvre une filiale au Royaume-Uni. ASTER Technologies Ltd, créée avec le soutien de Bretagne International est dirigée par Peter COLLINS, directeur des ventes et du marketing. (Fichier PDF, 11k) |
| 30-NOV-2004 & 01-DEC-2004 | ASTER présente l'article Calculation of Board Test Coverage, au Nordic Test Forum (Fichier PDF, 140k) |
| 09-NOV-2004 | ASTER et Router Solutions Incorporated annoncent le premier outil de stratégie de test combiné (Fichier PDF, 14k) |
| 01-MAR-2002 | ASTER devient membre l'Open System Alliance de la société VALOR. Le format ODB++ est supporté par TestWay et RepairPlus[/LINK2]. |
| 01-JAN-2000 | ASTER devient le distributeur officiel des produits Boundary-Scan de la société GOEPEL pour la France. |
| 01-JUN-1993 | ASTER devient le distributeur officiel des générateurs de vecteurs de test pour les circuits programmables de la société ACUGEN pour la France. |
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