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Une sélection de nos clients :
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Actualité :
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10-AUG-2010 :
ASTER renouvelle son partenariat avec Mentor Graphics dans le cadre du programme OpenDoor.
 du 01-JUN-2010 au 03-JUN-2010 :
Salon CiEN - stand H31 (Paris, France)
19-OCT-2009 :
Communiqué de presse : ASTER Technologies et ITOCHU SysTech annoncent un partenariat stratégique qui permet aux clients TAKAYA d 'accéder à un outil d 'analyse de couverture de test.
29-OCT-2009 :
Outils de conception et de contrôle pour les entreprises de l'électronique - Venez découvrir de nouveaux outils destinés aux Bureaux d'études, fabricants, sous-traitants pour réduire drastiquement les délais de mise sur le marché.Inscription gratuite (Morlaix, France)
du 10-NOV-2009 au 13-NOV-2009 :
Productronica - Hall A1 stand 232 (Munich, Allemagne)
13-OCT-2009 :
GOEPEL Technology Day - Inscrivez-vous et apprenez comment " TestWay " peut réduire les coûts de test et fabrication de vos cartes (Southampton, Royaume Uni)
du 06-OCT-2009 au 08-OCT-2009 :
Forum de l'Electronique - Hall 1 stand C 57. Badge gratuit Mot de passe: IA (Paris-Nord Villepinte, France)
23-JUN-2009 :
Newsletter: Demandez une analyse de couverture de test GRATUITE!
du 29-MAR-2009 au 02-APR-2009 :
Agilent Technologies va collaborer avec ASTER pour l'analyse de la couverture de test multiplateforme. Revue de presse. Venez nous rendre visite à l'IPC APEX Expo, stand 1245. (Californie, Etats-Unis)
03 & 05-MAR-2009 :
Goepel Technology Days - Venez assister aux présentations ASTER pendant ces séminaires en Angleterre. A Cambridge le 3 mars, et à Bristol le 5 mars 2009.
05-DEC-2008 :
Newsletter: ASTER lance l'analyse de couverture "low-cost"
20-NOV-2008 :
ASTER renouvelle son partenariat avec Mentor Graphics dans le cadre du programme OpenDoor.
du 11-NOV-2008 au 14-NOV-2008 :
Electronica - Hall A1 - Stand 549. (Munich, Allemagne)
24-OCT-2008 :
ASTER Technologies lance une nouvelle génération d'outils "easy-to-use" pour l'analyse de couverture de test. Revue de presse
du 30-SEP-2008 au 02-OCT-2008 :
Forum de l'Electronique - Hall 2 Stand 2-N100. (Paris-Nord Villepinte, France)
du 09-SEP-2008 au 11-SEP-2008 :
Autotestcon - Rendez visite à ASTER sur le stand Global Test Solutions, Stand 930. Information & inscription (Salt Lake City, Etats-Unis)
10-JUL-2008 :
Success Stories : Témoignage de KONTRON. (Boisbriand, Canada)
du 17-JUN-2008 au 19-JUN-2008 :
National Electronics Week - Rendez visite à ASTER sur le stand Accelonix, Hall 2, Stand D60. (London, Royaume Uni)
10-JUN-2008 :
First ASTER Chinese Users' Group - Venez partager les expériences d'autres utilisateurs et restez informés des nouveautés sur les développements des produits. Version anglophone - Version chinoise (Shanghai, Chine)
26-MAY-2008 :
Edition de mai de la Newsletter ASTER.
19-MAY-2008 :
Accelonix nommé distributeur officiel de QUAD, au Royaume Uni et en Europe Centrale.
du 08-APR-2008 au 10-APR-2008 :
"Is a board 'good' because the test passes?", publication technique sur l'Analyse de Couverture de Test, presenté lors de l' "Aerospace Testing Seminar". (Californie, Etats-Unis)
28-FEB-2008 :
Publication de l'article Quad - Une solution dédiée rationalise le contrôle de la qualité des cartes dans la revue 'Electronique International'. (France)
19-FEB-2008 :
ASTER nomme Testforce comme Distributeur au Canada. (Toronto, Canada)
du 13-NOV-2007 au 16-NOV-2007 :
Productronica - Hall A1 - Stand 452 (Munich, Allemagne)
04-OCT-2007 :
ASTER Technologies, Distributeur de CAMCAD en France. (Paris, France)
du 25-SEP-2007 au 27-SEP-2007 :
Forum de l'Electronique - Hall 7.2 - Stand R98 (Paris, France)
22-JUN-2007 :
ASTER bénéficie de Microsoft Empower pour développer QuadView.
du 15-MAY-2007 au 17-MAY-2007 :
Nepcon UK - Stand G46 (Birmingham NEC, Royaume Uni)
15-MAY-2007 :
ASTER et GOEPEL annoncent une collaboration pour le développement de CASCON ScanVision III.
02-MAY-2007 :
Edition de Mai de la Newsletter ASTER.
28-FEB-2007 :
Boundary Scan Day - organisé par GOEPEL Electronic (Cambridge University, Royaume Uni)
28-FEB-2007 :
ASTER et GOEPEL annoncent une collaboration concernant la Vérification de règles DfT
08-FEB-2007 :
Test In Production Event - organisé par ACCELONIX (Eindhoven, Pays Bas)
23-JAN-2007 :
Publication de l'article "Les conceptions de vos cartes sont-elles testables?" sur le site web d'EngineerLive.
16-OCT-2006 :
ASTER Technologies et TEMENTO Systems annoncent un partenariat stratégique
14-SEP-2006 :
test fonctionnel et analyse de couverture de fautes durant la 5e édition du IEEE Board Test Workshop. (Fort Collins, Colorado, Etats-Unis)
19-JUN-2006 :
ASTER nomme RDT comme Distributeur en Israel. (Tel Aviv, Israel)
03-APR-2006 :
ASTER ouvre une filiale au Royaume-Uni. ASTER Technologies Ltd, créée avec le soutien de Bretagne International est dirigée par Peter COLLINS, directeur des ventes et du marketing.
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QuadView: Next Generation Viewers
QuadView adds new dimension to PCB schematic & layout viewing
ASTER has introduced the QuadView next generation viewers to their product
portfolio. QuadView is a powerful set of scalable board viewing modules that can be used
either as a standalone viewer or fully integrated within customer's applications.
QuadView's unique digitization capability allows users to create schematic views directly
from searchable PDF files, and the innovative ‘Netlist Navigator’ provides virtual schematic
views reconstructed directly from a board netlist. Layout views can be created from industry
standard formats such as, GENCAD, CAMCAD, FATF, ODB++, or directly from any native CAD layout
data such as Cadence, Mentor, Zuken, etc. The fault ticket analyzer provides full interaction
between component and net references in any type of paperless repair fault ticket, exported
from test, repair or inspection systems.
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Key Product benefits
Ease of Use
Powerful, scalable visualization environment, consisting of schematic, netlist,
layout and fault ticket viewing modules that can be used either standalone or
integrated within customer’s applications. No pre-processing of CAD data needed.
Automated schematic creation
Unique digitization capability that allows users to create a schematic view
directly from a searchable PDF file. Interactive with layout and Netlist Navigator.
Netlist Navigator
Reconstruct “virtual schematics” directly from a netlist, to provide a visual
netlist navigation capability that includes advanced nodal detail.
Layout from native CAD formats
Create layout view from standard CAD formats such as GENCAD, CAMCAD, FATF,
ODB++, or direct from native CAD layout data.
Fault ticket hot-links
Anyone who can surf the WWW can learn to use QuadView. Navigate between component and net references that appear as highlighted
hot-links within the paperless fault ticket.
Fully Interactive Cross-probing
Cross-probe between layout, schematic and netlist viewers, and other products
within the ASTER portfolio such as TestWay and Quad.
Flexible color assignment
Visualize test coverage and component pin properties using the QuadView color
assignment palette, to simplify analysis and fault class recognition.
Functional test editor
Declare functional test coverage on both component and pin level. Simplify
functional test diagnosis with the “Sherlock” algorithm.
Short-circuit search assistant
Reduce the time to locate short-circuits by intelligently highlighting areas
where solder bridges are most likely.
Legacy product support
Migration Kit provides full backwards compatibility with legacy products
DebugPlus,
RepairPlus and
FaultView.
Tell me more
Additional information
Other products
- TPQR, Test Program Quality Report
- TestWay, Board testability analyzer
- Quad, Quality advisor and manager
- QuadFeederSafe, make your feeder settings secure
- WildScan, Boundary-Scan test translation
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