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Une sélection de nos clients :
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Actualité :
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10-AUG-2010 :
ASTER renouvelle son partenariat avec Mentor Graphics dans le cadre du programme OpenDoor.
 du 01-JUN-2010 au 03-JUN-2010 :
Salon CiEN - stand H31 (Paris, France)
19-OCT-2009 :
Communiqué de presse : ASTER Technologies et ITOCHU SysTech annoncent un partenariat stratégique qui permet aux clients TAKAYA d 'accéder à un outil d 'analyse de couverture de test.
29-OCT-2009 :
Outils de conception et de contrôle pour les entreprises de l'électronique - Venez découvrir de nouveaux outils destinés aux Bureaux d'études, fabricants, sous-traitants pour réduire drastiquement les délais de mise sur le marché.Inscription gratuite (Morlaix, France)
du 10-NOV-2009 au 13-NOV-2009 :
Productronica - Hall A1 stand 232 (Munich, Allemagne)
13-OCT-2009 :
GOEPEL Technology Day - Inscrivez-vous et apprenez comment " TestWay " peut réduire les coûts de test et fabrication de vos cartes (Southampton, Royaume Uni)
du 06-OCT-2009 au 08-OCT-2009 :
Forum de l'Electronique - Hall 1 stand C 57. Badge gratuit Mot de passe: IA (Paris-Nord Villepinte, France)
23-JUN-2009 :
Newsletter: Demandez une analyse de couverture de test GRATUITE!
du 29-MAR-2009 au 02-APR-2009 :
Agilent Technologies va collaborer avec ASTER pour l'analyse de la couverture de test multiplateforme. Revue de presse. Venez nous rendre visite à l'IPC APEX Expo, stand 1245. (Californie, Etats-Unis)
03 & 05-MAR-2009 :
Goepel Technology Days - Venez assister aux présentations ASTER pendant ces séminaires en Angleterre. A Cambridge le 3 mars, et à Bristol le 5 mars 2009.
05-DEC-2008 :
Newsletter: ASTER lance l'analyse de couverture "low-cost"
20-NOV-2008 :
ASTER renouvelle son partenariat avec Mentor Graphics dans le cadre du programme OpenDoor.
du 11-NOV-2008 au 14-NOV-2008 :
Electronica - Hall A1 - Stand 549. (Munich, Allemagne)
24-OCT-2008 :
ASTER Technologies lance une nouvelle génération d'outils "easy-to-use" pour l'analyse de couverture de test. Revue de presse
du 30-SEP-2008 au 02-OCT-2008 :
Forum de l'Electronique - Hall 2 Stand 2-N100. (Paris-Nord Villepinte, France)
du 09-SEP-2008 au 11-SEP-2008 :
Autotestcon - Rendez visite à ASTER sur le stand Global Test Solutions, Stand 930. Information & inscription (Salt Lake City, Etats-Unis)
10-JUL-2008 :
Success Stories : Témoignage de KONTRON. (Boisbriand, Canada)
du 17-JUN-2008 au 19-JUN-2008 :
National Electronics Week - Rendez visite à ASTER sur le stand Accelonix, Hall 2, Stand D60. (London, Royaume Uni)
10-JUN-2008 :
First ASTER Chinese Users' Group - Venez partager les expériences d'autres utilisateurs et restez informés des nouveautés sur les développements des produits. Version anglophone - Version chinoise (Shanghai, Chine)
26-MAY-2008 :
Edition de mai de la Newsletter ASTER.
19-MAY-2008 :
Accelonix nommé distributeur officiel de QUAD, au Royaume Uni et en Europe Centrale.
du 08-APR-2008 au 10-APR-2008 :
"Is a board 'good' because the test passes?", publication technique sur l'Analyse de Couverture de Test, presenté lors de l' "Aerospace Testing Seminar". (Californie, Etats-Unis)
28-FEB-2008 :
Publication de l'article Quad - Une solution dédiée rationalise le contrôle de la qualité des cartes dans la revue 'Electronique International'. (France)
19-FEB-2008 :
ASTER nomme Testforce comme Distributeur au Canada. (Toronto, Canada)
du 13-NOV-2007 au 16-NOV-2007 :
Productronica - Hall A1 - Stand 452 (Munich, Allemagne)
04-OCT-2007 :
ASTER Technologies, Distributeur de CAMCAD en France. (Paris, France)
du 25-SEP-2007 au 27-SEP-2007 :
Forum de l'Electronique - Hall 7.2 - Stand R98 (Paris, France)
22-JUN-2007 :
ASTER bénéficie de Microsoft Empower pour développer QuadView.
du 15-MAY-2007 au 17-MAY-2007 :
Nepcon UK - Stand G46 (Birmingham NEC, Royaume Uni)
15-MAY-2007 :
ASTER et GOEPEL annoncent une collaboration pour le développement de CASCON ScanVision III.
02-MAY-2007 :
Edition de Mai de la Newsletter ASTER.
28-FEB-2007 :
Boundary Scan Day - organisé par GOEPEL Electronic (Cambridge University, Royaume Uni)
28-FEB-2007 :
ASTER et GOEPEL annoncent une collaboration concernant la Vérification de règles DfT
08-FEB-2007 :
Test In Production Event - organisé par ACCELONIX (Eindhoven, Pays Bas)
23-JAN-2007 :
Publication de l'article "Les conceptions de vos cartes sont-elles testables?" sur le site web d'EngineerLive.
16-OCT-2006 :
ASTER Technologies et TEMENTO Systems annoncent un partenariat stratégique
14-SEP-2006 :
test fonctionnel et analyse de couverture de fautes durant la 5e édition du IEEE Board Test Workshop. (Fort Collins, Colorado, Etats-Unis)
19-JUN-2006 :
ASTER nomme RDT comme Distributeur en Israel. (Tel Aviv, Israel)
03-APR-2006 :
ASTER ouvre une filiale au Royaume-Uni. ASTER Technologies Ltd, créée avec le soutien de Bretagne International est dirigée par Peter COLLINS, directeur des ventes et du marketing.
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Analyse de Testabilité
ASTER fournit une large gamme de services en analyse de testabilité basée sur
notre produit TestWay :
- Vérification de règles pour le test In-Circuit, fonctionnel et
Boundary-Scan.
- Optimisation des points de test - Jusqu'à 70% de points de test
économisés dès la saisie de schéma, rétro-annotation automatique des outils
CAO.
- Distribution du test sur la ligne de production.
- Prédiction et mesure de la couverture de test.
- Prédiction du "Production yield" - Probabilité de défauts.
- Génération des programmes de test Boundary-Scan.
Informations complémentaires
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