|
|
Une sélection de nos clients :

|
|
Actualité :
|
10-AUG-2010 : ASTER renouvelle son partenariat avec Mentor Graphics dans le cadre du programme OpenDoor.
du 01-JUN-2010 au 03-JUN-2010 : Salon CiEN - stand H31 (Paris, France)

19-OCT-2009 : Communiqué de presse : ASTER Technologies et ITOCHU SysTech annoncent un partenariat stratégique qui permet aux clients TAKAYA d 'accéder à un outil d 'analyse de couverture de test.
29-OCT-2009 : Outils de conception et de contrôle pour les entreprises de l'électronique - Venez découvrir de nouveaux outils destinés aux Bureaux d'études, fabricants, sous-traitants pour réduire drastiquement les délais de mise sur le marché.Inscription gratuite (Morlaix, France)
du 10-NOV-2009 au 13-NOV-2009 : Productronica - Hall A1 stand 232 (Munich, Allemagne)

13-OCT-2009 : GOEPEL Technology Day - Inscrivez-vous et apprenez comment " TestWay " peut réduire les coûts de test et fabrication de vos cartes (Southampton, Royaume Uni)

du 06-OCT-2009 au 08-OCT-2009 : Forum de l'Electronique - Hall 1 stand C 57. Badge gratuit Mot de passe: IA (Paris-Nord Villepinte, France)
23-JUN-2009 : Newsletter: Demandez une analyse de couverture de test GRATUITE!
du 29-MAR-2009 au 02-APR-2009 : Agilent Technologies va collaborer avec ASTER pour l'analyse de la couverture de test multiplateforme. Revue de presse. Venez nous rendre visite à l'IPC APEX Expo, stand 1245. (Californie, Etats-Unis)

03 & 05-MAR-2009 : Goepel Technology Days - Venez assister aux présentations ASTER pendant ces séminaires en Angleterre. A Cambridge le 3 mars, et à Bristol le 5 mars 2009.
05-DEC-2008 : Newsletter: ASTER lance l'analyse de couverture "low-cost"
20-NOV-2008 : ASTER renouvelle son partenariat avec Mentor Graphics dans le cadre du programme OpenDoor.
du 11-NOV-2008 au 14-NOV-2008 : Electronica - Hall A1 - Stand 549. (Munich, Allemagne)

24-OCT-2008 : ASTER Technologies lance une nouvelle génération d'outils "easy-to-use" pour l'analyse de couverture de test. Revue de presse
du 30-SEP-2008 au 02-OCT-2008 : Forum de l'Electronique - Hall 2 Stand 2-N100. (Paris-Nord Villepinte, France)

du 09-SEP-2008 au 11-SEP-2008 : Autotestcon - Rendez visite à ASTER sur le stand Global Test Solutions, Stand 930. Information & inscription (Salt Lake City, Etats-Unis)

10-JUL-2008 : Success Stories : Témoignage de KONTRON. (Boisbriand, Canada)
du 17-JUN-2008 au 19-JUN-2008 : National Electronics Week - Rendez visite à ASTER sur le stand Accelonix, Hall 2, Stand D60. (London, Royaume Uni)
10-JUN-2008 : First ASTER Chinese Users' Group - Venez partager les expériences d'autres utilisateurs et restez informés des nouveautés sur les développements des produits. Version anglophone - Version chinoise (Shanghai, Chine)
26-MAY-2008 : Edition de mai de la Newsletter ASTER.
19-MAY-2008 : Accelonix nommé distributeur officiel de QUAD, au Royaume Uni et en Europe Centrale.
du 08-APR-2008 au 10-APR-2008 : "Is a board 'good' because the test passes?", publication technique sur l'Analyse de Couverture de Test, presenté lors de l' "Aerospace Testing Seminar". (Californie, Etats-Unis)
28-FEB-2008 : Publication de l'article Quad - Une solution dédiée rationalise le contrôle de la qualité des cartes dans la revue 'Electronique International'. (France)
19-FEB-2008 : ASTER nomme Testforce comme Distributeur au Canada. (Toronto, Canada)
du 13-NOV-2007 au 16-NOV-2007 : Productronica - Hall A1 - Stand 452 (Munich, Allemagne)
04-OCT-2007 : ASTER Technologies, Distributeur de CAMCAD en France. (Paris, France)
du 25-SEP-2007 au 27-SEP-2007 : Forum de l'Electronique - Hall 7.2 - Stand R98 (Paris, France)
22-JUN-2007 : ASTER bénéficie de Microsoft Empower pour développer QuadView.
du 15-MAY-2007 au 17-MAY-2007 : Nepcon UK - Stand G46 (Birmingham NEC, Royaume Uni)
15-MAY-2007 : ASTER et GOEPEL annoncent une collaboration pour le développement de CASCON ScanVision III.
02-MAY-2007 : Edition de Mai de la Newsletter ASTER.
28-FEB-2007 : Boundary Scan Day - organisé par GOEPEL Electronic (Cambridge University, Royaume Uni)
28-FEB-2007 : ASTER et GOEPEL annoncent une collaboration concernant la Vérification de règles DfT
08-FEB-2007 : Test In Production Event - organisé par ACCELONIX (Eindhoven, Pays Bas)
23-JAN-2007 : Publication de l'article "Les conceptions de vos cartes sont-elles testables?" sur le site web d'EngineerLive.
16-OCT-2006 : ASTER Technologies et TEMENTO Systems annoncent un partenariat stratégique
14-SEP-2006 : test fonctionnel et analyse de couverture de fautes durant la 5e édition du IEEE Board Test Workshop. (Fort Collins, Colorado, Etats-Unis)
19-JUN-2006 : ASTER nomme RDT comme Distributeur en Israel. (Tel Aviv, Israel)
03-APR-2006 : ASTER ouvre une filiale au Royaume-Uni. ASTER Technologies Ltd, créée avec le soutien de Bretagne International est dirigée par Peter COLLINS, directeur des ventes et du marketing.
>> More...
|
|
|
|
|
Choisissez votre langue:
|
|
|
|
| |
TestWay™ - Concurrent engineering
Speed new products to market by conducting test engineering activities concurrently with
design activities. By using the TestWay board-level testability analyzer, test
engineers can check testability, plan test strategies, predict fault
coverage, and assign testpoints during the schematic design stage. The net
result is fewer test problems, fewer iterations through layout, lower cost
test fixture, higher test quality and faster time to market.

Concurrent engineering means slightly different things to different equipment
manufacturers, but a common thread is to have some traditional test
engineering functions performed during the design phase. This has seemed
like a great idea since it was first proposed at least 20 years ago.
Unfortunately, concurrent engineering is easier to think about and talk
about than to implement effectively. The key to effective implementation is
to have a software tool, such as TestWay, that enables test engineers to
work from design (schematic) files efficiently and without disrupting design
activities.
Check testability
Performing a manual testability review of a complex board can consume 3-5 days
of a talented engineer and there is always the possibility that some problem
will be overlooked. TestWay can perform an automatic testability review in a
fraction of this time and with consistency that few engineers can match. Since
TestWay can check testability at schematic design stage, the design can be
improved.
Plan test strategies
There are many different test approaches for today's boards. In-circuit board
test, boundary scan, AOI, AXI, MDA, flying probes and perhaps others. How is a
test engineer to decide on a strategy, or combination of strategies, for a
particular board? TestWay enables what-if scenarios to be explored and evaluated
quickly.
Predict fault coverage
TestWay quickly reports potential fault coverage based on boundary scan,
in-circuit board test, cluster test or combinational test strategies. Un-testable
faults are quickly identified so that the design can be modified or test points
added.
Assign test points
TestWay analyzes the design (either schematic or layout) and identifies the
boundary scan chains. It then determines which nets can be completely tested
using boundary scan, which are partial boundary scan nets, and which are
completely non-scan nets. You can direct TestWay to add more test points to
obtain additional fault coverage (via clusters or direct access) on partial scan
and non-scan nets. TestWay reports candidate test points to add or remove and
the faults detectable as a result. This allows you to optimize fault coverage or
minimize test points.
Generate tester files
TestWay can generate tester files from the schematic design files. This allows
serious test development to begin before the board passes through layout.
Benefits of TestWay in Concurrent Engineering
TestWay unlocks the great potential benefits of concurrent engineering.
- Higher test coverage by identifying testability issue while designers
are still able to make modifications.
- Higher test coverage by identifying optimal test points and
back-annotating them into the schematic.
- Fewer iterations through layout because test points can be assigned
prior to layout.
- Lower fixture costs because of fewer test points.
- Faster time to market because many test problems can be resolved at the
schematic stage.
- Faster time to market because test programs can be substantially
developed prior to layout.
|
|
|